顯微觀察
- 測量內容
- 暗視野、反射光與浸液觀察可揭示內含物、生長構造及達表特徵。
- 可回答的問題
- 支持天然與合成判定，並辨識癒合裂隙、充填殘留與助熔劑相關特徵等處理證據。
- 送件條件
- 無損方法，許多已鑲嵌寶石亦可檢測。
- 限制
- 鑲座可能遮蔽亭部、腰圍或完整觀察所需區域。
關於 ICA GemLab
以證據為本。
ICA GemLab 是一家獨立的彩色寶石實驗室。所有寶石學檢測、儀器分析及報告簽發均於曼谷總實驗室進行。
我們的使命
以科學為依據，獨立作出判斷。
每件送檢品都從問題開始：它是什麼、是否經過處理，以及現有證據是否支持地理產地意見。我們的寶石學家將觀察結果、儀器數據與參考資料結合，而不依賴單一測試。
結論只在證據充足時作出。遇到特徵重疊、樣品狀況受限或比較資料不足時，我們會清楚說明限制，而不勉強得出答案。
獨立 以證據為依據 專注於寶石
分析方法
每部儀器回答不同問題。
方法依寶石、狀況與檢測問題選擇。以下說明每項技術測量什麼、可回答什麼、是否適合已鑲嵌寶石，以及其主要限制。
LA-ICP-MS
- 測量內容
- 高靈敏度微量元素分析可測量極低濃度元素與診斷性比值。
- 可回答的問題
- 支持剛玉鈹擴散檢測、含銅碧璽分析，以及產地研究所需的微量元素比對。
- 送件條件
- 微損方法，會產生細小的雷射剝蝕點。
- 限制
- 檢測前須確認樣品適用性與目前測點規格，尤其是已鑲嵌或具歷史價值的物件。
EDXRF
- 測量內容
- 無損、半定量的X射線螢光分析，用於篩檢近表面元素組成。
- 可回答的問題
- 有助於寶石礦物種與品種特徵判定，並可篩檢富鉛充填物。
- 送件條件
- 適用於許多已鑲嵌寶石。
- 限制
- 無法測定鈹、鋰或硼等輕元素，在微量問題上的靈敏度低於 LA-ICP-MS。
Raman
- 測量內容
- 雷射激發記錄精確選定點位的分子振動特徵。
- 可回答的問題
- 無須打開寶石即可鑑別礦物內含物和部分充填物；輔助光致發光數據可支持進一步解讀。
- 送件條件
- 無損點分析可針對裸石或可接觸的已鑲嵌寶石中的顯微特徵。
- 限制
- 螢光、深度、方向和造成遮蔽的鑲座可能降低光譜品質。
UV–Vis–NIR
- 測量內容
- 紫外光、可見光及近紅外光吸收光譜記錄與致色元素和缺陷相關的躍遷。
- 可回答的問題
- 有助於解釋涉及鉻、鐵、鈷或釩的致色原因，並為部分處理及顏色穩定性研究提供依據。
- 送件條件
- 通常為無損；裸石可提供最受控的光路。
- 限制
- 吸收特徵重疊及鑲座造成的接觸限制，需要結合其他方法進行解讀。
FTIR
- 測量內容
- 傅立葉轉換紅外光譜記錄與結構缺陷、羥基及有機物質相關的吸收帶。
- 可回答的問題
- 可用於評估加熱處理、區分天然與合成材料，以及辨識與油或樹脂相關的淨度改善。
- 送件條件
- 當樣品具備合適的透射光路時，可進行無損檢測。
- 限制
- 嚴重內含物、不透明區域和金屬鑲座可能限制透射及可測量區域。
參考標本庫
比較賦予測量結果意義。
產地判定取決於比較樣品的品質與相關性，而非某一張光譜或某一個化學數值。ICA GemLab 將內含物、光譜與微量元素模式和相關參考資料比對，只有在證據相互吻合時才提出產地意見。
隨著新樣品與研究加入，參考範圍也會改變。對於特定礦區的寶石，客戶可在送件前詢問實驗室，確認現有比較範圍能否支持所需的產地分析。
實驗室影像
查看證據。
